3 / 39
AA-7000
Спектральный диапазон 185–900 нм.
Трехмерная двухлучевая оптическая схема
с использованием цифрового оптического
фильтра и элементов, сокращающих
потери излучения. Автоматическая смена
и юстировка атомизаторов, двойная
система коррекции фона (дейтериевый
корректор и корректор по самообращенной
спектральной линии), турель на 6 ламп
с полым катодом, функция микро-
дозирования, в т.ч. и в пламя, функция
автоматического разбавления пробы,
возможность комплектации без электро-
термического атомизатора.
IG-1000
Уникальный анализатор размеров
наночастиц. Для анализа используется
метод индуцированной решётки (IG),
который базируется на новом принципе
измерения размеров наночастиц.
Метод позволяет даже в области
наночастиц получать хорошее
соотношение сигнал/шум, благодаря
чему возможны стабильные измерения
с хорошей воспроизводимостью.
Диапазон измерения от 0,5 до 200 нм.
EDX-7000
/ 8000
EDX-720P / 800P
Энергодисперсионные рентгено-
флуоресцентные спектрометры
• EDX-7000/8000: кремниевый дрейфовый
детектор (SDD),
не требующий
жидкого азота; разрешение 125 эВ
на линии 5,9 кэВ.
• Диапазон определяемых элементов:
EDX-720P/EDX-7000: от Na до U
EDX-800P/EDX-8000: от C до U
• Коллиматоры различного диаметра для
проведения локального анализа.
• CCD-камера для позиционирования
и видеоконтроля области анализа.
AA-6200 Двухлучевая модель для рутинного анализа с пламенной и электро- термической атомизацией. • Эффективность, простота и надежность в управлении. • Аналитические характеристики прибора высокого класса. • Самый компактный атомно- абсорбционный спектрофотометр в данном классе приборов. Серия SALD • SALD-2300 — универсальный прибор для измерения в диапазоне от 17 нм до 2500 мкм. Измерения можно проводить как «мокрым», так и «сухим» методом. • SALD-7500nano — для измерения нано- частиц в диапазоне от 7 нм до 800 мкм. • Aggregates Sizer — система количествен- ной оценки агрегирования биофармпре- паратов. • А также SALD-201V, SALD-301V и SALD-3101. XRF-1800 Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр последовательного действия • Определяемые элементы: 4Be – 92U. • Локальный анализ и картирование элементов с шагом 250 мкм (патент). • Качественный/количественный анализ с использованием линий высших порядков (патент). • Определение толщины и элементного состава плёнок и покрытий. • Анализ методом фундаментальных параметров и калибровочных кривых с учётом матричной коррекции. • 10 кристаллов, 5 первичных фильтров, 5 коллиматоров. EPMA-8050G • Катод Шоттки высокой яркости • Максимальный ток до 3 μА • Высокий — 52,5° — угол отбора рентгеновского излучения • Пять волнодисперсионных спектрометров • Высокоэффективные кристаллы- анализаторы с фокусировкой по Иоганссону • Энергодисперсионный спектрометр • Катодолюминесцентный спектрометр XRD-6100 / 7000• XRD-6100: рентгеновский дифрактометр
с гониометром вертикального типа
и многофункциональным ПО.
• XRD-7000: рентгеновский дифрактометр
с
θ −
θ
гониометром переменного
радиуса для анализа больших образцов.
• Поликапиллярная оптическая система.
• Система автоматических переменных щелей.
• Приставки для анализа макронапряжений,
текстур, микрообразцов, тонких пленок, волокон.
• Высоко- и низкотемпературные камеры.
• Монохроматоры различных типов.
• Лицензионные базы данных PDF-2 и PDF-4
MXF-2400 Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр для экспрессного одновре- менного определения до 36 элементов в образцах различной природы. • Определяемые элементы: 4 Ве – 92 U. • Время анализа: 40 секунд. • Рентгеновская трубка 4 кВт. • 6 кристаллов-анализаторов. • Проточный пропорциональный счётчик для определения 4 Ве – 10 F. • Отпаянный пропорциональный счётчик для определения 11 Na – 92 U. • Сканирующий канал (опция). • Всё необходимое оборудование для пробоподготовки.Программное обес
печение на русском языке!
Программное обес
печение на русском языке!
Программное обеспечение на русском языке!
РЕНТГЕНОВСКИЕ СПЕКТРАЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ
ЛАЗЕРНЫЕ АНАЛИЗАТОРЫ РАЗМЕРОВ ЧАСТИЦ
РЕНТГЕНОВСКИЕ
ДИФРАКТОМЕТРЫ
ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВЫЙ
МИКРОАНАЛИЗАТОР
АТОМНО-АБСОРБЦИОННЫЕ СПЕКТРОФОТОМЕТРЫ
EDX-720P EDX-70003